软件介绍
ComPhysics E2M-Win Pro 是 Windows 上一款一维电磁仿真软件，基于先进 1D 电磁求解器，专注多层堆叠结构的电磁波传播分析，可快速计算反射率、透射率、吸收率与光子能带结构，适配线性均匀各向同性（LHI）介质，集成refractiveindex.info材料数据库并支持自定义材料，支持频率 / 波长 / 能量多域仿真，面向光学薄膜、光子晶体、太阳能电池、电磁屏蔽等领域，提供高效求解、数据可视化与多格式导出，助力科研与工程设计，兼具易用性与专业精度。
- 1D 堆叠结构建模：支持任意层数平面分层结构，可设置每层厚度、介电常数、磁导率与电导率，适配薄膜堆叠、涂层、分层介质等场景，支持无限周期结构（超晶格 / 光子晶体）建模，快速生成周期性边界条件下的能带结构。
- 多域电磁响应计算：在频率、波长或能量（电子伏特）域内，计算任意入射角与偏振（TE/TM/ 混合）下的反射率（R）、透射率（T）、吸收率（A=1-R-T），自动输出光谱曲线，支持批量参数扫描（如厚度、折射率、入射角），快速分析参数对性能的影响。
- 光子能带分析：针对周期性结构，计算 TE 与 TM 模式的光子能带图，识别带隙位置与宽度，助力光子晶体器件（如滤波器、波导）设计，支持能带折叠与模式简并分析。
- 材料与边界适配：内置refractiveindex.info材料库，涵盖金属、半导体、电介质等常用材料，支持自定义材料电磁参数，适配非磁性材料假设下的参数转换，支持空气 – 介质、介质 – 金属等界面边界条件。
- 参数化扫描与优化：支持单一 / 多参数（厚度、折射率、频率等）批量扫描，自动生成对比曲线，快速定位最优参数组合，适配器件性能优化场景。
- 可视化与图表生成：实时绘制光谱曲线、能带图、场分布剖面图，支持自定义图表样式（颜色、线型、标注），生成 publication 级插图，支持多曲线叠加对比，直观呈现不同参数下的电磁响应。
- 数据导出与交互：导出原始数据（CSV/TXT）与图表（PNG/SVG），适配第三方数据分析工具（Origin、MATLAB），支持仿真报告一键生成，包含参数设置、图表与结果分析，便于项目存档与成果分享。
- 快速 1D 电磁求解器：采用先进数值算法，兼顾求解速度与精度，适配大规模多层结构，支持多线程计算，缩短仿真周期。
- 向导式操作流程：按 “结构建模→材料配置→仿真设置→结果分析” 分步引导，降低电磁仿真入门门槛，支持项目文件保存与复用，便于跨场景参数迁移。
软件截图
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